產(chǎn)品分類
	     - 哈納代理
 - 哈希代理
 - 杭州思看
 - 英國(guó)泰勒霍普森 Taylor Hobson
 - 德國(guó)Fischer菲希爾
 - 德國(guó)Sensopart森薩帕特
 - 德國(guó)Elektrophysik EPK
 - 德國(guó)艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
 - 德國(guó)BYK
 - 德國(guó)馬爾 Mahr
 - 德國(guó)尼克斯QNix
 - 德國(guó)馬爾Mahr
 - 美國(guó)SDI
 - 美國(guó)FLIR
 - 美國(guó)Mark-10
 - 美國(guó)狄夫斯高 Defelsko
 - 美國(guó)GE
 - 美國(guó)福祿克Fluke
 - 美國(guó)API
 - 英國(guó)易高Elcometer
 - 日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
 - 日本三豐Mitutoyo
 - 瑞士TESA
 - 瑞士TRIMOS
 - 瑞士博勢(shì) Proceq
 - 香港嘉儀CanNeed
 - 弗勞恩霍夫
 
技術(shù)文章
			 當(dāng)前位置:首頁(yè) > 技術(shù)文章
菲希爾鍍層測(cè)厚儀FISCHER XDL230產(chǎn)品簡(jiǎn)介
			  點(diǎn)擊次數(shù):505 更新時(shí)間:2025-05-07
			  FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230比例接收器能實(shí)現(xiàn)計(jì)數(shù)率
菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230由于采用了FISCHER基本參數(shù)法,因此無(wú)論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品,儀器都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。
| 通用規(guī)格 | |
| 設(shè)計(jì)用途 | 能量色散型X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀(EDXPF),用于測(cè)定鍍層和溶液分析。 | 
| 元素范圍 | 從元素氯(17)到鈾(92) | 
| 配有可選的WinFTM®BASIC軟件時(shí),可同時(shí)測(cè)定24種元素 | |
| 設(shè)計(jì)理念 | 臺(tái)式儀器,測(cè)量門向上開(kāi)啟 | 
| 測(cè)量方向 | 由上往下 | 
| X射線源 | |
| X射線管 | 帶鈹窗口的鎢管 | 
| 高壓 | 三檔:30KV,40KV,50KV | 
| 孔徑(準(zhǔn)直器) | φ0.3mm 可選:φ0.1mm;φ0.2mm;長(zhǎng)方形0.3mm x 0.05mm | 
| 測(cè)量點(diǎn)尺寸 | 取決于測(cè)量距離及使用的準(zhǔn)直器大小 | 
| 實(shí)際的測(cè)量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的一致 | |
| 小的測(cè)量點(diǎn)大小約φ0.2mm | |

